Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"I. Tsameret"'
Autor:
John Ortega, P. Xiao, H. Hadziosmanovic, R. Jiang, D. Schroeder, J. Palmer, I. Tsameret, M. Klessens
Publikováno v:
IRPS
Using a typical Semiconductor Parameter Analyzer (SPA) for semiconductor reliability stress tests such as Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB), bias temperature instability (BTI), Hot Carrier Injection (HCI), has limitations. The SPA tends to b
Autor:
Rahim Kasim, J. Palmer, A. Schmitz, I. Tsameret, F. Pan, C. Auth, Flavio Griggio, Yeoh Andrew W, Gerald S. Leatherman, Joseph M. Steigerwald, J. Hicks, J. Shin, A. Madhavan, N. Toledo
Publikováno v:
IRPS
This paper discusses the reliability of a new metallization scheme for 10nm back end of line (BEOL) local interconnect. Electromigration (EM) and time dependent dielectric breakdown (TDDB) on cobalt fill interconnects are investigated. Significant in
Autor:
Patel Reken, P. Yashar, C. Pelto, I. Tsameret, C. Petersburg, J. Longun, I. Jin, D. Ingerly, L. Rockford, Hsiao-Kang Chang, Conor P. Puls, P. Plekhanov, Muhammet Uncuer, Kevin J. Fischer, H. Kilambi
Publikováno v:
2016 IEEE International Interconnect Technology Conference / Advanced Metallization Conference (IITC/AMC).
We describe here performance enhancement to Intel's 14nm high-performance logic technology interconnects and back end stack and introduce the SOC technology family of interconnects. Enhancement includes improved RC performance and intrinsic capacitan
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.