Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"I. McCallum-Cook"'
Autor:
U. S. Raghunathan, S. Sirohi, V. Ruparelia, P. K. Sharma, D. P. Ioannou, V. Jain, H. K. Kakara, S. Gedela, V. Vanukuru, P. Dongmo, C. Luce, R. Hazbun, R. Krishnasamy, J. Hwang, M. Levy, K. Welch, S. Liu, B. Cucci, S. Cole, J. Kantarovsky, A. Vallett, I. McCallum-Cook, M. Yu, R. Phelps, A. Divergilio, A. Sturm, M. Peters, S. Johnson, R. Rassel, M. Lagerquist, M. Kerbaugh, K. Newton, J. Pekarik, Q. Liu
Publikováno v:
2022 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS).
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 33:331-336
Ti, Co, Pt, and Ni salicide processes optimized for a range of CMOS technology nodes down to 90nm were fabricated using 0.35 $\mu {\mathrm{ m}}$ SiGe BiCMOS. On-wafer circuitry was used to program discrete eFuse elements to compare their pre and post
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.