Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"I-U characteristic analysis"'
Publikováno v:
Energies, Vol 15, Iss 11, p 3950 (2022)
In the hot-spot fault of photovoltaic modules, there is a low resistance hot-spot fault caused by crystal defects, such as internal crack and PN junction failure. When the faulty area is partially shaded, it will produce severe temperature rise, acce
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/cf17c03b7c024248a048af218503c9c6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.