Zobrazeno 1 - 10
of 1 243
pro vyhledávání: '"I Seo"'
Autor:
I Seo Heo, Ha Rin Lee
Publikováno v:
Journal of Basic Design & Art. 23:497-507
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b3d22a6528778cda468cec4ddc150b09
https://doi.org/10.47294/ksbda.23.3.36
https://doi.org/10.47294/ksbda.23.3.36
Autor:
H. Sato, H. M. Shin, H. Jung, S. W. Lee, H. Bae, H. Kwon, K. H. Ryu, W. C. Lim, Y. S. Han, J. H. Jeong, J. M Lee, D. S. Kim, K. Lee, J. H. Lee, J. H. Park, Y. J. Song, Y. Ji, B. I. Seo, J.W. Kim, H. H. Kim
Publikováno v:
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5e9dd89b9de7aa367400b41894f7a258
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10118152
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10118152
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
G. Tsutsui, S. Song, J. Strane, R. Xie, L. Qin, C. Zhang, D. Schmidt, S. Fan, B. Hong, Y. Jung, C-W. Sohn, I. Hwang, J. Yim, G. H. Son, G. Jo, K-I. Kim, M. Sankarapandian, S. Mochizuki, I. Seshadri, E. Miller, J. Li, J. Demarest, C. Waskiewicz, R. G. Southwick, H. Zhou, R. N. Pujari, P. Nieves, M. Wang, H. Jagannathan, B. Anderson, D. Guo, R. Divakaruni, T. Wu, K-I. Seo, H. Bu
Publikováno v:
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0064f8c338daf52cc73fe7a373b8ea95
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019393
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019393
Autor:
C. Penny, K. Motoyama, S. Ghosh, T. Bae, N. Lanzillo, S. Sieg, C. Park, L. Zou, H. Lee, D. Metzler, J. Lee, S. Cho, M. Shoudy, S. Nguyen, A. Simon, K. Park, L. Clevenger, B. Anderson, C. Child, T. Yamashita, J. Arnold, T. Wu, T. Spooner, K. Choi, K-I. Seo, D. Guo
Publikováno v:
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4f1057ce776c9492d42cb725b180234a
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019479
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019479