Zobrazeno 1 - 10
of 2 997
pro vyhledávání: '"I Pomeranz"'
1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
2
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Vyhledávací nástroje:
Upřesnit hledání
- 199 test generation
- 182 integrated circuits
- 152 transition faults
- 139 circuit faults
- 87 testing
- 82 electronic circuits
- 81 algorithms
- 78 test compaction
- 67 broadside tests
- 64 very large scale circuit integration
- 62 functional broadside tests
- 61 clocks
- 57 test data compression
- 56 scan circuits
- 51 data compression
- 50 fault diagnosis
- 46 logic circuits
- 45 delay faults (semiconductors)
- 45 integrated circuit design
- 45 integrated circuit modeling
- 45 stuck-at faults
- 43 benchmark testing
- 42 compaction
- 41 delay
- 41 electronic circuit design
- 38 fault detection
- 38 static test compaction
- 37 logic gates
- 36 computational modeling
- 36 computer-aided design
- 36 defect diagnosis
- 35 path delay faults
- 34 simulation methods & models
- 34 synchronous sequential circuits
- 33 computer architecture
- 33 full-scan circuits
- 32 fault tolerance (engineering)
- 31 skewed-load tests
- 30 digital electronics
- 30 very large scale integration
- 29 automatic test pattern generation
- 29 bridging faults
- 28 embedded computer systems
- 27 built-in self-test
- 27 electronics
- 27 switching activity
- 26 test pattern generators
- 25 fault simulation
- 25 reliability
- 25 sequential circuits
- 1 649 ieee
- 260 association for computing machinery
- 170 institute of electrical and electronics engineers inc.
- 98 springer nature
- 74 springer
- 70 ieee computer society
- 30 wiley-blackwell
- 18 ieee comput. soc
- 18 taylor & francis ltd
- 14 world scientific publishing company
- 12 crc press
- 11 ieee comput. soc. press
- 11 institution of engineering and technology
- 7 academic press
- 6 institute of electrical and electronics engineers (ieee)
- 6 oxford university press / usa
- 6 public library of science
- 5 asm international
- 5 morgan kaufmann
- 5 nova science publishers, inc
- 4 american scientific publishers
- 4 hp inc.
- 4 mdpi
- 4 routledge
- 3 association for computing machinery, inc
- 3 cambridge university press
- 3 ieee comp soc
- 3 ios press
- 3 kluwer academic publishers
- 3 society for industrial & applied mathematics
- 3 springer science and business media llc
- 3 trans tech publications ltd
- 2 chinese society of agricultural engineering
- 2 elsevier
- 2 elsevier bv
- 2 korean society of pediatric infectious diseases
- 2 wiley
- 2 woodhead publishing
- 2 world scientific
- 2 zenodo
- 1 acm press
- 1 artech house
- 1 demos medical
- 1 lithuanian veterinary academy
- 1 military medical academy ini
- 1 ovid technologies (wolters kluwer health)
- 1 oxford university press (oup)
- 1 s. karger ag
- 1 university of california press
- 1 university of toronto press
- 340 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits & systems
- 234 ieee transactions on very large scale integration (vlsi) systems
- 136 ieee transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
- 124 ieee transactions on computers
- 63 journal of electronic testing
- 49 proceedings of the ieee vlsi test symposium
- 40 proceedings of the asian test symposium
- 13 harefuah
- 13 proceedings 10th asian test symposium
- 10 proceedings of 14th vlsi test symposium
- 9 ieee/acm international conference on computer-aided design
- 8 acm computing surveys
- 8 pediatric nephrology
- 5 2006 43rd acm/ieee design automation conference
- 5 gastroenterology
- 5 iccad-2003. international conference on computer aided design (ieee cat. no.03ch37486)
- 4 hewlett-packard journal
- 4 ieee micro
- 3 2003 design, automation and test in europe conference and exhibition
- 3 american journal of gastroenterology
- 3 gastrointestinal endoscopy
- 3 proceedings 2002 design, automation and test in europe conference and exhibition
- 2 1999 ieee/acm international conference on computer-aided design. digest of technical papers (cat. no.99ch37051)
- 2 abdominal imaging
- 2 american journal of health-system pharmacy
- 2 digestive diseases and sciences
- 2 diseases of the esophagus
- 2 fresenius' zeitschrift fur analytische chemie
- 2 ieee/acm international conference on computer aided design, 2002. iccad 2002.
- 2 ieee/acm international conference on computer aided design. iccad - 2000. ieee/acm digest of technical papers (cat. no.00ch37140)
- 2 international journal of food properties
- 2 israel journal of medical sciences
- 2 plos neglected tropical diseases
- 2 proceedings 1999 design automation conference (cat. no. 99ch36361)
- 2 proceedings design, automation and test in europe
- 2 proceedings design, automation and test in europe. conference and exhibition 2001
- 2 proceedings of 1993 international conference on computer aided design (iccad)
- 2 proceedings of asp-dac/vlsi design 2002. 7th asia and south pacific design automation conference and 15h international conference on vlsi design
- 2 siam journal on computing
- 1 alimentary pharmacology & therapeutics
- 1 dermatologic therapy
- 1 gastroenterology research & practice
- 1 iete journal of research
- 1 iete technical review
- 1 imaging science journal
- 1 international journal of reliability, quality & safety engineering
- 1 journal of fungi
- 1 journal of low temperature physics
- 1 mycoses
- 1 pediatric infection & vaccine