Zobrazeno 1 - 10
of 139
pro vyhledávání: '"I, Dahan"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
J. S. d. Chan, S. Abdo, A. Ghosh, T. Alquier, I. Chenier, J. G. Filep, J. R. Ingelfinger, S.-L. Zhang, E. A. Ross, B. J. Willenberg, J. Oca-Cossio, W. L. Clapp, N. Terada, D. R. Abrahamson, G. W. Ellison, C. E. Matthews, C. D. Batich, C. Ihoriya, M. Satoh, T. Sasaki, N. Kashihara, A. Piwkowska, D. Rogacka, S. Angielski, M. Jankowski, P. Pontrelli, F. Conserva, M. Papale, M. Accetturo, M. Gigante, G. Vocino, A. M. Dipalma, G. Grandaliano, S. Di Paolo, L. Gesualdo, S. Franzen, L. Pihl, N. Khan, H. Gustafsson, F. Palm, S. Koszegi, J. Hodrea, L. Lenart, A. Hosszu, L. Wagner, A. Vannay, T. Tulassay, A. Szabo, A. Fekete, R. Aoki, F. Sekine, K. Kikuchi, S. Miyazaki, Y. Yamashita, Y. Itoh, M. Kolling, J.-K. Park, H. Haller, T. Thum, J. Lorenzen, A. Hirayama, K. Yoh, A. Ueda, H. Itoh, S. Owada, G. Kokeny, L. Szabo, K. Fazekas, L. Rosivall, M. M. Mozes, Y. Kim, E. S. Koh, J. H. Lim, M. Y. Kim, Y. S. Chang, C. W. Park, H. W. Kim, B. C. Shin, H. L. Kim, J. H. Chung, J.-S. Chan, T.-C. Wu, J.-W. Chen, S. Clotet, M. J. Soler, M. Rebull, J. Pascual, M. Riera, D. Patinha, J. Afonso, T. Sousa, M. Morato, A. Albino-Teixeira, H. Kim, H. S. Min, M.-J. Kang, J. E. Kim, J.-E. Lee, Y. S. Kang, D. R. Cha, Y.-I. Jo, E.-H. Seo, J.-D. Kim, S.-H. Lee, L. Jorge, K. A. S. Silva, R. S. Luiz, R. R. Rampaso, W. Lima, T. S. Cunha, N. Schor, H. J. Lee, J. Y. Park, S. K. Kim, J. Y. Moon, S. H. Lee, C. G. Ihm, T. W. Lee, K. H. Jeong, J.-Y. Moon, S. Kim, J.-Y. Park, S.-Y. Kim, Y.-G. Kim, K.-H. Jeong, C.-G. Ihm, C. Marques, C. Mega, A. Goncalves, P. Rodrigues-Santos, E. Teixeira-Lemos, F. Teixeira, C. Fontes Ribeiro, F. Reis, R. Fernandes, B. K. Sutariya, L. B. Badgujar, A. A. Kshtriya, M. N. Saraf, C.-H. Chiu, W.-C. Lee, Y.-Y. Chau, L.-C. Lee, C.-T. Lee, J.-B. Chen, I. Dahan, F. Nakhoul, N. Thawho, O. Ben-Itzhaq, A. P. Levy, G. Cordisco, L. Fiorentino, M. Federici, G. Wystrychowski, P. J. Havel, J. L. Graham, E. Zukowska-Szczechowska, E. Obuchowicz, A. Psurek, W. Grzeszczak, A. Wystrychowski, J. Gimeno, B. Z. d. Almeida, D. C. C. Seraphim, G. Punaro, M. Nascimento, M. Mouro, V. P. Lanzoni, G. S. Lopes, E. M. S. Higa, H. Roca-Ho, E. Marquez
Publikováno v:
Nephrology Dialysis Transplantation. 29:iii168-iii177
Publikováno v:
Powder Diffraction. 23:137-140
Rhombohedral-cubic transformation in Bi2Te3 doped-Pb1−xGexTe alloys is presented. Samples of Bi2Te3 doped Pb1−xGexTe were prepared by powder metallurgy approach. These powder samples were examined by high-temperature X-ray diffraction (XRD) and s
Autor:
M.P. Dariel, I. Dahan
Publikováno v:
Key Engineering Materials. :879-882
The present communication is concerned with the interdiffusion kinetics and the interface breakdown that take place in the Nb/NbC multilayer system as the result of thermal annealing in the 400-800oC temperature range. Within this temperature range c
Publikováno v:
Surface and Coatings Technology. 137:111-115
A functionally graded transition zone between a hard TiC coating and a WC–Co substrate, e.g. a cutting tool, can be formed over the range composition of the titanium carbide phase that extends from Ti2C to TiC. The transition zone is formed by sput
Publikováno v:
Optical Materials. 16:119-123
Coherently oriented cubic defects were recently reported to exist within the tetragonal lattice of zinc–germanium–phosphide, ZnGeP2 (ZGP). X-ray diffraction utilizing whole pattern optimization (Rietveld method) and line-profile-fitting (LPF) ena
Publikováno v:
Thin Solid Films. :687-693
The present communication is concerned with the interdiffusion kinetics and the local concentration variations that take place in Ti/TiC multilayer system as a result of thermal anneals between 355 and 550°C. Within this temperature range, carbon is
Publikováno v:
Surface and Coatings Technology. :8-14
The sticking/adhesion of glass to glass molding dies and forming tools is a critical problem which limits the quality of glass products and the performance and reliability of molding dies and forming tools. Depositing NiAl, NiAlN, TiBC, a