Zobrazeno 1 - 10
of 248
pro vyhledávání: '"Hybertsen, M.S."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ackerman, D.A., Johnson, J.E., Ketelsen, L.J.-P., Geary, J.M., Asous, W.A., Walters, F.S., Freund, J.M., Hybertsen, M.S., Glogovsky, K.G., Lentz, C.W., Reynolds, C.L., Bylsma, R.B., Dean, E.J., Koch, T.L.
Publikováno v:
Conference Proceedings 2001 International Conference on Indium Phosphide & Related Materials. 13th IPRM (Cat. No.01CH37198); 2001, p571-574, 4p
Autor:
Klotzkin, D., Sheridan-Eng, J., Mazzatesta, A., Ford, G., Laquindinum, J., Chien, M., Park, M., Michel, E., Kinkel, R., Roycroft, S., Ketelsen, L.J.P., Johnson, J.E., Sputz, S.K., Lentz, J.L., Alam, M.A., Hybertsen, M.S., Reynolds, C.L., Glogovsky, K.G., Stampone, D., Chu, S.N.G.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138); 2000, p593-596, 4p