Zobrazeno 1 - 10
of 1 310
pro vyhledávání: '"Hwang, Do Been"'
Autor:
Park, Youngjae, Jeon, Seong-Su, Lee, Dong-Young, Wook Chung, Young, Gyun Nam, Sang, Hyun Hwang, Do
Publikováno v:
In Annals of Nuclear Energy October 2024 206
Autor:
Kwon, Namhee, Song, Seung Ho, Jin, Junyoung, Kim, Seunghwan, Kim, Kitae, Hwang, Gyu Weon, Yi, Yeonjin, Oh, Soong Ju, Koch, Norbert, Kim, Yong-Hoon, Hwang, Do Kyung, Park, Soohyung
Publikováno v:
In Applied Surface Science 15 August 2024 664
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/14/2024, Vol. 135 Issue 22, p1-9, 9p
Autor:
Menabde, Sergey G., Boroviks, Sergejs, Ahn, Jongtae, Heiden, Jacob T., Watanabe, Kenji, Taniguchi, Takashi, Low, Tony, Hwang, Do Kyung, Mortensen, N. Asger, Jang, Min Seok
Publikováno v:
Science Advances 8, eabn0627 (2022)
Near-field mapping has been widely used to study hyperbolic phonon-polaritons in van der Waals crystals. However, an accurate measurement of the polaritonic loss remains challenging because of the inherent complexity of the near-field signal and the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2109.02800
Autor:
Lee, Minyoung, Yang, Ye Jin, Cho, Munsun, Shin, Jiwon, Choi, Yaenyeong, Hwang, Do Yeon, Oh, Heemuk, Lee, Jun Bae, Hong, Sung-Kyu
Publikováno v:
In Displays July 2024 83
Autor:
Kathiravan, Arunkumar, Mateen, Fahad, Gopinath, Pushparathinam, Hwang, Do-Yeon, Hong, Sung-Kyu, Qaid, Saif M.H.
Publikováno v:
In Dyes and Pigments March 2024 222
Autor:
Hwang, Do-Yeon, Meti, Puttavva, Mateen, Fahad, Lee, Da-Sol, Yang, Ye-Jin, Eom, Jun-Sik, Shin, Ji-Won, Qaid, Saif M.H., Gong, Young-Dae, Hong, Sung-Kyu
Publikováno v:
In Dyes and Pigments January 2024 221
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Gyu Hwang, Tae, Woo Cho, Dong, Hwang, Do-Hoon, Jin Jung, Yu, Park, Ikbum, Eun Kim, Gyeong, Mok Park, Jong
Publikováno v:
In Chemical Engineering Journal 1 October 2023 473