Zobrazeno 1 - 10
of 191
pro vyhledávání: '"Huse, Nils"'
Recent advancements in ultrashort and intense X-ray sources have enabled the utilisation of resonant inelastic X-ray scattering (RIXS) as a probing technique for monitoring photoinduced dynamics in molecular systems. To account for dynamic phenomena
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2403.11005
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nweze, Christian, Glier, Tomke E., Rerrer, Mika, van Heek, Malte, Scheitz, Sarah, Akinsinde, Lewis O., Kohlmann, Niklas, Kienle, Lorenz, Huang, Yalan, Parak, Wolfgang J., Huse, Nils, Rübhausen, Michael
Publikováno v:
Advanced Materials Interfaces; 6/6/2024, Vol. 11 Issue 16, p1-8, 8p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jay, Raphael M., Coates, Michael R., Zhao, Huan, Winghart, Marc-Oliver, Han, Peng, Wang, Ru-Pan, Harich, Jessica, Banerjee, Ambar, Wikmark, Hampus, Fondell, Mattis, Nibbering, Erik T. J., Odelius, Michael, Huse, Nils, Wernet, Philippe
Publikováno v:
Journal of the American Chemical Society; 5/22/2024, Vol. 146 Issue 20, p14000-14011, 12p