Zobrazeno 1 - 10
of 18
pro vyhledávání: '"Hurst, J.P."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Matheron, S., Casalino, E., Wolff, M., Delaval, A., Agnamey, P., Durand, R., Pilo, J.E., Rapp, C., Faucher, J.F., Cuisenier, B., Poilane, I., Bemba, D., Roide, A., Debourgogne, A., Thibault, M., Toubas, D., Patoz, P., De Gentile, L., Pons, D., Hurst, J.P., Lohmann, C., Bigel, M.L., Godineau, N., Thouvenin, M., Dunand, J., Ait-Ammar, N., Angoulvant, A., Dahane, N., Lefevre, M., Murat, J.B., Garnaud, C., Dannaoui, E., Botterel, F., Dutoit, E., Dardé, M.L., Ichou, H., Branger, C., Penn, P., Angebault, C., Morio, F., Bret, L., Thellier, M., Mouri, O., Cateau, E., Siriez, J.Y., Fenneteau, O., Revest, M., Belaz, S., Belkadi, G., Hamane, S., Bretagne, S., Aboubacar, A., Leloup, G., Develoux, M., Lapillonne, H., Eloy, O., Nevez, G., Raffenot, D., Buret, B., Desoubeaux, G., Goepp, A., Argy, N., Bertin, G.I., Milet, J., Hubert, V., Clain, J., Cojean, S., Houzé, P., Tuikue-Ndam, N., Kendjo, E., Deloron, P., Houzé, S.
Publikováno v:
In Clinical Microbiology and Infection March 2017 23(3):211-211
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hurst, J.P., Kanopoulos, N.
Publikováno v:
Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium; 1995, p346-352, 7p
Autor:
Hurst, J.P., Singh, A.D.
Publikováno v:
Proceedings of the 8th International Conference on VLSI Design; 1995, p419-423, 5p
Autor:
Singh, A.D., Hurst, J.P.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium; 1994, p374-379, 6p
Autor:
Hurst, J.P., Singh, A.D.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1997, Vol. 32 Issue 1, p122-125, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.