Zobrazeno 1 - 10
of 18
pro vyhledávání: '"Hurkx, F."'
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting 1998. Technical Digest (Cat. No.98CH36217).
This paper describes a self-consistent procedure to extract energy dependent electron (/spl alpha/) and hole (/spl beta/) ionization coefficients directly from electrical measurements of multiplication factors (M/sub n/ and M/sub p/, respectively) ca
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3730992e7cf8a322883ed8b6d72e051d
https://doi.org/10.1109/iedm.1998.746496
https://doi.org/10.1109/iedm.1998.746496
Publikováno v:
2000 International Conference on Simulation Semiconductor Processes & Devices (Cat. No.00TH8502); 2000, p46-49, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting; 1993, p453-456, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1993, Vol. 40 Issue 12, p2273-2281, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.