Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Hung, L.J."'
Autor:
Doong, K.Y.Y., Bordelon, J., Keh-Jeng Chang, Hung, L.J., Liao, C.C., Lin, S.C., Ho, R.S., Hsieh, S., Young, K.L.
Publikováno v:
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2006, p98-103, 6p
Autor:
Doong, K.Y.Y., Lin, K.-C., Tseng, T.-C., Lu, Y.C., Lin, S.C., Hung, L.J., Ho, P.S., Hsieh, S., Young, K.L., Liang, M.S.
Publikováno v:
Proceedings of the 2004 International Conference on Microelectronic Test Structures (IEEE Cat. No.04CH37516); 2004, p87-92, 6p
Autor:
Doong, K.Y.Y., Wang, R.C.J., Lin, S.C., Hung, L.J., Chiu, C.C., Su, D., Wu, K., Young, K.L., Peng, Y.K.
Publikováno v:
2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual; 2003, p156-160, 5p
Publikováno v:
International Conference on Microelectronic Test Structures, 2003; 2003, p103-106, 4p
Autor:
Doong, K.Y.-Y., Hsieh, S., Lin, S.C., Hung, L.J., Wang, R.J., Binson Shen, Hisa, J.W., Guo, J.C., Chen, I.C., Young, K.L., Hsu, C.C.-H.
Publikováno v:
Proceedings of the 2002 International Conference on Microelectronic Test Structures, 2002 (ICMTS 2002); 2002, p55-59, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.