Zobrazeno 1 - 10
of 27
pro vyhledávání: '"Humbel, O."'
Autor:
Fugger, M., Plappert, M., Schäffer, C., Humbel, O., Hutter, H., Danninger, H., Nowottnick, M.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2014 54(11):2487-2493
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-October 2012 52(9-10):1993-1997
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2000 40(3):427-433
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Schulze, H.-J., Bauer, J.-G., Falck, E., Niedernostheide, F.-J., Biermann, J., Dutemeyer, T., Humbel, O., Schieber, A.
Publikováno v:
2013 25th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's (ISPSD); 2013, p257-260, 4p
Publikováno v:
2008 20th International Symposium on Power Semiconductor Devices & IC's; 2008, p40-43, 4p
Publikováno v:
12th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs. Proceedings (Cat. No.00CH37094); 2000, p123-126, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
11th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs ISPSD'99 Proceedings (Cat No99CH36312); 1999, p121-124, 4p
Publikováno v:
Proceedings of the 2000 22nd International Conference on Microelectronics (Cat. No.00TH8400); 2000, p625-625, 1p