Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Hua, Yiran"'
Publikováno v:
In Expert Systems With Applications 15 March 2024 238 Part E
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 790:012177
We present a new calibration method based on multi-scale calibration board for scanning electronic microscopy (SEM) at low magnifications. The implementation of the calibration mainly depends on automatic center-point features detection from the cali
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2e51f1fe7462ab8e43dff7aa9465a3a2
https://doi.org/10.1088/1757-899x/790/1/012177
https://doi.org/10.1088/1757-899x/790/1/012177