Výsledky vyhledávání - "Hsieh, E. R."

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Hsieh, E. R."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 44 pro vyhledávání: '"Hsieh, E. R."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

A theoretical and experimental evaluation of surface roughness variation in trigate metal oxide semiconductor field effect transistors.

Autor: Hsieh, E. R., Chung, Steve S.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 5/28/2016, Vol. 119 Issue 20, p204502-1-204502-7, 7p, 2 Diagrams, 9 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

A FORMing-Free HfO2-/HfON-Based Resistive-Gate Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect-Transistor (RG-MOSFET) Nonvolatile Memory With 3-Bit-Per-Cell Storage Capability.

Autor: Hsieh, E. R.¹ (AUTHOR) eray0206@gmail.com, Chen, K. T.² (AUTHOR), Chen, P. Y.² (AUTHOR), Wong, S. S.³ (AUTHOR), Chung, S. S.² (AUTHOR)

Publikováno v: IEEE Transactions on Electron Devices. Jun2021, Vol. 68 Issue 6, p2699-2704. 6p.

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

The RTN measurement technique on leakage path finding in advanced high-k metal gate CMOS devices.

Autor: Hsieh, E. R., Lu, P. Y., Chung, Steve S., Ke, J. C., Yang, C. W., Tsai, C. T., Yew, T. R.

Publikováno v: 2015 IEEE 22nd International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits; 2015, p154-457, 304p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 10 10

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
Další »
[5]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

28 Akademické články
16 Konferenční materiály

13 metal oxide semiconductor field-effect transistors
8 transistors
7 nonvolatile memory
6 threshold voltage
5 dielectrics
5 logic gates
5 mosfet
5 mosfets
4 electrodes
4 nonvolatile memory (nvm)
3 cmos integrated circuits
3 doping agents (chemistry)
3 electron mobility
3 fluctuations (physics)
3 hafnium oxide
3 ions
3 memristors
3 nonvolatile random-access memory
3 resistance
3 resource description framework
3 rram
3 si
3 silicon
3 stress
3 surface roughness
3 voltage control
2 analog memory
2 decoding
2 dielectric materials
2 electric potential
2 electric properties of silicon
2 electron traps
2 ferroelectric devices
2 finfets
2 hot carriers
2 ion implantation
2 logic circuits
2 logic device
2 mechanical chemistry
2 metals
2 mosfet circuits
2 motion control devices
2 noise measurement
2 non-volatile memory
2 percolation theory
2 physical unclonable function
2 programming
2 proximity detectors
2 quantum tunneling
2 random dopant fluctuation

21 ieee
10 american institute of physics
5 amer inst physics
5 ieee-inst electrical electronics engineers inc
2 association for computing machinery
1 elsevier b.v.

12 applied physics letters
8 ieee electron device letters
4 ieee transactions on electron devices
3 journal of applied physics
1 2012 ieee silicon nanoelectronics workshop (snw)
1 2012 international electron devices meeting
1 2012 symposium on vlsi technology (vlsit)
1 2013 ieee international electron devices meeting
1 2013 international symposium on vlsi technology, systems & application (vlsi-tsa)
1 2014 ieee international electron devices meeting
1 2014 silicon nanoelectronics workshop (snw)
1 2014 symposium on vlsi technology (vlsi-technology): digest of technical papers
1 2015 ieee 22nd international symposium on the physical & failure analysis of integrated circuits
1 2015 ieee international electron devices meeting (iedm)
1 2015 silicon nanoelectronics workshop (snw)
1 2016 international symposium on vlsi technology, systems & application (vlsi-tsa)
1 dac: annual acm/ieee design automation conference
1 proceedings of technical program - 2014 international symposium on vlsi technology, systems & application (vlsi-tsa)
1 proceedings of technical program of 2012 vlsi technology, system & application
1 proceedings of the 14th design automation conference
1 surface and coatings technology

26 Complementary Index
10 Science Citation Index Expanded
6 Academic Search Ultimate
1 Scopus®
1 Business Source Ultimate

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......