Zobrazeno 1 - 10
of 341
pro vyhledávání: '"Hsiao, M.S."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hsiao, M.S., Zheng, J.X., Leng, S., M. Van Horn, R., Quirk, R.P., Thomas, E.L, Chen, H.L., Hsiao, B.S., Rong, L., Lotz, B., Cheng, S.Z.D.
Publikováno v:
Macromolecules
Macromolecules, American Chemical Society, 2008, 41 (21), pp.8114-8123
Macromolecules, American Chemical Society, 2008, 41 (21), pp.8114-8123
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::33e21c3ceeaa2b2fcfc2583814f99991
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00366972
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00366972
Autor:
Hsiao, M.S., Chen, W.Y., X. Zheng, J., M. Van Horn, R., Quirk, R.P., Ivanov, D.A., Thomas, E.L., Lotz, B., Z. D. Cheng, S.
Publikováno v:
Macromolecules
Macromolecules, American Chemical Society, 2008, 41 (13), pp.4794-4801
Macromolecules, American Chemical Society, 2008, 41 (13), pp.4794-4801
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1558081d941d0bc5223d1dbc495d7619
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00366970
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00366970
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 20th Asian Test Symposium (ATS); 2011, p167-174, 8p
Publikováno v:
2011 IEEE International High Level Design Validation & Test Workshop (HLDVT); 2011, p1-8, 8p
Publikováno v:
2011 IEEE International High Level Design Validation & Test Workshop (HLDVT); 2011, p128-135, 8p
Autor:
Banga, M., Hsiao, M.S.
Publikováno v:
2011 IEEE International Symposium on Hardware-Oriented Security & Trust (HOST); 2011, p18-23, 6p
Publikováno v:
2011 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2011, p1-6, 6p
Publikováno v:
2011 24th International Conference on VLSI Design (VLSI Design); 2011, p358-363, 6p