Zobrazeno 1 - 10
of 107
pro vyhledávání: '"Hosoya, O."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Onoda, A., Hosoya, O., Sano, K., Kiyama, K., Kimura, Hiroshi, Kawano, S., Furuta, R., Miyaji, M., Tsutsui, K., Tsutsui, K. M.
Publikováno v:
Nucleic Acids Research
DNA topoisomerase II (topo II) changes DNA topology by cleavage/re-ligation cycle(s) and thus contributes to various nuclear DNA transactions. It is largely unknown how the enzyme is controlled in a nuclear context. Several studies have suggested tha
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::58d058731680f74b1c47fdacfc6a54ef
https://ousar.lib.okayama-u.ac.jp/53139
https://ousar.lib.okayama-u.ac.jp/53139
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IECON 2006 - 32nd Annual Conference on IEEE Industrial Electronics; 2006, p213-218, 6p