Zobrazeno 1 - 10
of 18
pro vyhledávání: '"Hoshi, Yutaka"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hoshi, Yutaka
学位の種別: 課程博士
審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 池谷 裕二, 東京大学教授 北川 大樹, 東京大学教授 三浦 正幸, 東京大学准教授 小山 隆太, 東京大学特任講師 伊藤 弦太
審査委員会委員 : （主査）東京大学教授 池谷 裕二, 東京大学教授 北川 大樹, 東京大学教授 三浦 正幸, 東京大学准教授 小山 隆太, 東京大学特任講師 伊藤 弦太
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::2a54e0ccb998e6c9fa7f9e6e82a12e69
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/2005184
https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/2005184
Autor:
Hoshi Yutaka, Masayuki Arai, Toru Koyama, Kenji Shiozawa, Nomura Shuji, Kazuhiko Iwasaki, Kazuhiro Tomonaga, Jun Matsushima, Yoshikazu Nagamura
Publikováno v:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing. 30:317-322
Test quality is critical to eliminate test escapes and to achieve high-reliability large-scale integrated (LSI) devices. This paper proposes a new concept called “physical test coverage” to verify test coverage based on the physical layout of LSI
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a9cddadcb8ca2a2986f9d78596719e32
https://doi.org/10.1109/tsm.2017.2746089
https://doi.org/10.1109/tsm.2017.2746089
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena - Annual Report 1984; 1984, p114-119, 6p
Autor:
Toyama, Hinako, Iio, Masahiro, Iisaka, Joji, Chiba, Kazuo, Yamada, Hideo, Matsui, Kengo, Hoshi, Yutaka, Fuse, Masaaki
Publikováno v:
JNM; Nov1976, Vol. 17 Issue 11, p953-958, 6p, 4 Color Photographs, 1 Black and White Photograph, 2 Diagrams, 2 Charts
Publikováno v:
In Biochemical and Biophysical Research Communications 1972 49(4):1137-1141
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; May 1987, Vol. 26 Issue: 5 pL554-L554, 1p
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; March 1986, Vol. 25 Issue: 3 p464-464, 1p