Zobrazeno 1 - 10 of 22 pro vyhledávání: '"Hosack, H."'
1
Akademický článek
A closed form analytic model for separation by implantation of oxygen oxide growth using a joined-Gaussian approximation.
Autor: Hosack, H. H., El-Ghor, M. K., Hollingsworth, J., Joyner, K.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 2/1/1993, Vol. 73 Issue 3, p1461, 10p, 2 Black and White Photographs, 8 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Electrical and mechanical features of the platinum silicide-aluminum reaction.
Autor: Hosack, H. H.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Aug1973, Vol. 44 Issue 8, p3476-3485, 10p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Double Barrier Transmission Characteristics.
Autor: Hosack, H. H.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Apr1965, Vol. 36 Issue 4, p1281-1285, 5p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Double Barrier in Thin-Film Triodes.
Autor: Davis, R. H., Hosack, H. H.
Publikováno v: Journal of Applied Physics; Apr1963, Vol. 34 Issue 4, p864-866, 3p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Evaluation of Si pre-amorphization for obtaining ultra-shallow junctions.
Autor: Sultan, A., Banerjee, S., List, S., Pollack, G., Hosack, H.
Publikováno v: Proceedings of 11th International Conference on Ion Implantation Technology; 1996, p25-28, 4p
Zobrazit plný text záznamu
6
Conference
A 640 Megapixel/sec 512 × 512 interline transfer virtual phase CCD.
Autor: Wadsworth, M., Hosack, H., Freeman, J., Hovland, L.
Publikováno v: 1986 International Electron Devices Meeting; 1986, p357-360, 4p
Zobrazit plný text záznamu
7
Periodical
A Long-term View of Research Targets in Nanoelectronics
Autor: Cavin, R., Zhirnov, V., Bourianoff, G., Hutchby, J., Herr, D., Hosack, H., Joyner, W., Wooldridge, T.
Publikováno v: Journal of Nanoparticle Research; December 2005, Vol. 7 Issue: 6 p573-586, 14p
Zobrazit plný text záznamu
8
Conference
An in-process evaluation technique for detection of buried oxide leakage on SOI materials.
Autor: Joyner, K., Aton, T., Hosack, H.
Publikováno v: 1991 IEEE International SOI Conference Proceedings; 1991, p64-65, 2p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Effect of particles on buried oxide defects in SIMOX material.
Autor: Joyner, K., El-Ghor, M., Hosack, H.
Publikováno v: 1991 IEEE International SOI Conference Proceedings; 1991, p4-5, 2p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje