Zobrazeno 1 - 10 of 10 pro vyhledávání: '"Hoolihan, Daniel David"'
1
Periodical
Members of the Administrative Committee/Board of Directors for the EMC Society
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2021, Vol. 10 Issue: 3 p23-26, 4p
Zobrazit plný text záznamu
2
Periodical
A Brief History of the American National Standards Institute (ANSI) C63.4 Standard
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2021, Vol. 10 Issue: 2 p24-26, 3p
Zobrazit plný text záznamu
3
Periodical
Historical Research Trip to Don Heirman's House: Plus a Follow-On Visit to Purdue University–Resting Place for Heirman's Records
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2021, Vol. 10 Issue: 3 p27-29, 3p
Zobrazit plný text záznamu
4
Periodical
A Review of Developments in Wireless and Electrical Engineering
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2023, Vol. 12 Issue: 1 p29-30, 2p
Zobrazit plný text záznamu
5
Periodical
Milton Kant - Completed Career and Last of Our Founders of the EMC Society?
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2023, Vol. 12 Issue: 2 p31-32, 2p
Zobrazit plný text záznamu
6
Periodical
Historical documents — Compliments of Milton Kant
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2019, Vol. 8 Issue: 1 p35-37, 3p
Zobrazit plný text záznamu
7
Periodical
Article on IEEE EMC Society Administrative Committee Minutes
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; January 2018, Vol. 7 Issue: 1 p35-37, 3p
Zobrazit plný text záznamu
8
Periodical
Presidents of the EMC Society
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2022, Vol. 11 Issue: 3 p29-29, 1p
Zobrazit plný text záznamu
9
Periodical
NEW STANDARD PUBLISHED: C63.24 - American National Standard: Recommended Practice for In Situ RF Immunity Evaluation of Electronic Devices and Systems
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2021, Vol. 10 Issue: 3 p97-97, 1p
Zobrazit plný text záznamu
10
Periodical
Brief Review of Division IV Directors of the IEEE
Autor: Hoolihan, Daniel David
Publikováno v: IEEE Electromagnetic Compatibility Magazine; 2021, Vol. 10 Issue: 3 p22-22, 1p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje