Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"Honma, Noriaki"'
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2001, Vol. 681 Issue 1, p1-6, 6p
Publikováno v:
Scanning Microscopy
A technique for imaging the distribution of ac surface photovoltages induced in a semiconductor wafer by the irradiation with a blue or near-infrared chopped photon beam is applied to non-destructive inspection of faults in Si or GaAs wafers. Faults
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1459::c404b18cbd4ac257b8c8980d2ca13485
https://digitalcommons.usu.edu/context/microscopy/article/1518/viewcontent/WDCcenterscan1988KinameriMunakataHonma_ApplicationPhotovoltageImaging.pdf
https://digitalcommons.usu.edu/context/microscopy/article/1518/viewcontent/WDCcenterscan1988KinameriMunakataHonma_ApplicationPhotovoltageImaging.pdf
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Honma, Noriaki, Kato, Hisayuki
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; November 1993, Vol. 32 Issue: 11 p5085-5085, 1p
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; June 1989, Vol. 28 Issue: 6 p1143-1143, 1p
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; May 1989, Vol. 28 Issue: 5 p743-743, 1p
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; June 1984, Vol. 23 Issue: 6 p778-778, 1p
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; June 1984, Vol. 23 Issue: 6 pL354-L354, 1p
Autor:
Munakata, Chusuke, Honma, Noriaki
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; October 1987, Vol. 26 Issue: 10 p1663-1663, 1p
Autor:
Honma, Noriaki, Munakata, Chusuke
Publikováno v:
Japanese Journal of Applied Physics; December 1987, Vol. 26 Issue: 12 p2033-2033, 1p