Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Hong, Wonsik"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2010 50(9):1645-1649
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hong Won-Sik(Hong Wonsik)
Publikováno v:
Acta Koreana. 14:15-40
Many scholars have sought to find the fundamental causes of the current environmental and ecological crisis in the anthropocentric view of nature and the mechanical view of the world. In this regard, there has been a gradual increase in the number of
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::36ee4e0023e4852114eff3ca47af5344
https://doi.org/10.18399/acta.2011.14.2.002
https://doi.org/10.18399/acta.2011.14.2.002
Autor:
Hong Won-Sik(Hong Wonsik)
Publikováno v:
Acta Koreana. 11:45-63
Koreans have long preferred using the term uri (we or us) over na (I or me). In this regard, this preference can be perceived as one of the unique characteristics of the process through which Koreans establish relationships with others. Moreover, thi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ba57102227ab52738778f6ca7ddd3353
https://doi.org/10.18399/acta.2008.11.2.003
https://doi.org/10.18399/acta.2008.11.2.003
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 37th IEEE Photovoltaic Specialists Conference; 1/ 1/2011, p003159-003161, 3p