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pro vyhledávání: '"Homoepitaxie"'
Autor:
Baierhofer, Daniel
Ziel dieser Arbeit war es, eine Korrelation der Siliciumcarbid (SiC) Materialqualität mit Ausfallmechanismen leistungselektronischer 4H-SiC Trench-MOSFET Bauelemente herzustellen. Dafür wurden homo-epitaktische, n-leitende SiC-Schichten abgeschiede
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d29241b2cdd0937858a2d3a929e81978
https://opus4.kobv.de/opus4-fau/files/21495/Daniel_Baierhofer_Diss_OPUS.pdf
https://opus4.kobv.de/opus4-fau/files/21495/Daniel_Baierhofer_Diss_OPUS.pdf
Autor:
Remfort, Reinhard
Das Stickstofffehlstellenzentrum (NV-Zentrum) in Diamant gehört dank seiner einzigartigen photoelektrischen Struktur zu einem der am besten untersuchten und für eine Vielzahl von Anwendungen, wie die Verwendung als Q-bit, Einzelphotonenquelle oder
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::d1b95f3b310bba7d34e4c3b953921043
Autor:
Kirste, Ronny, author, Sitar, Zlatko, author
Publikováno v:
III-Nitride Semiconductors and their Modern Devices, 2013, ill.
Externí odkaz:
https://doi.org/10.1093/acprof:oso/9780199681723.003.0004
Publikováno v:
Journal of Physics D: Applied Physics. 28:A144-A148
High-resolution x-ray diffraction is a non-destructive method with an extremely high strain sensitivity. It is shown that its sensitivity is high enough to detect the influence of very small degrees of contamination by oxygen at the interface and the
The investigation of orientation dependent crystal growth and etch processes can provide deep insights into the underlying mechanisms and thus helps to validate theoretical models. Here, we report on homoepitaxial diamond growth and oxygen etch exper
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::84a3b52707d22f43053d85ecbc68ba31
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/218066
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/218066
Autor:
Ferro, Gabriel
Le carbure de silicium est en théorie un des meilleurs candidats pour les applications aussi stratégiques que sont l'électronique forte puissance, haute température, haute fréquence ou encore fonctionnant en environnement hostile. Cependant, les
Externí odkaz:
http://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00136241
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/13/62/41/PDF/HDR_ferro.pdf
http://tel.archives-ouvertes.fr/docs/00/13/62/41/PDF/HDR_ferro.pdf
Autor:
Ferro, Gabriel
Publikováno v:
Matériaux. Université Claude Bernard-Lyon I, 2006
Le carbure de silicium est en théorie un des meilleurs candidats pour les applications aussi stratégiques que sont l'électronique forte puissance, haute température, haute fréquence ou encore fonctionnant en environnement hostile. Cependant, les
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::21a206edbbad6dce8b9b1adf227a9a7f
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00136241
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00136241
Autor:
Ferro, Gabriel
Publikováno v:
Matériaux. Université Claude Bernard-Lyon I, 2006
Le carbure de silicium est en théorie un des meilleurs candidats pour les applications aussi stratégiques que sont l'électronique forte puissance, haute température, haute fréquence ou encore fonctionnant en environnement hostile. Cependant, les
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______212::21a206edbbad6dce8b9b1adf227a9a7f
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00136241
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00136241