Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Hollain, D."'
Autor:
Micke, P., Kühn, S., Buchauer, L., Harries, J. R., Bücking, T. M., Blaum, K., Cieluch, A., Egl, A., Hollain, D., Kraemer, S., Pfeifer, T., Schmidt, P. O., Schüssler, R. X., Schweiger, Ch., Stöhlker, T., Sturm, S., Wolf, R. N., Bernitt, S., López-Urrutia, J. R. Crespo
Publikováno v:
Rev. Sci. Instrum. 89, 063109 (2018)
Electron beam ion traps (EBIT) are ideal tools for both production and study of highly charged ions (HCI). In order to reduce their construction, maintenance, and operation costs we have developed a novel, compact, room-temperature design, the Heidel
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2011.01363
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.