Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Hollain, D."'
Autor:
Micke, P., Kühn, S., Buchauer, L., Harries, J. R., Bücking, T. M., Blaum, K., Cieluch, A., Egl, A., Hollain, D., Kraemer, S., Pfeifer, T., Schmidt, P. O., Schüssler, R. X., Schweiger, Ch., Stöhlker, T., Sturm, S., Wolf, R. N., Bernitt, S., López-Urrutia, J. R. Crespo
Publikováno v:
Rev. Sci. Instrum. 89, 063109 (2018)
Electron beam ion traps (EBIT) are ideal tools for both production and study of highly charged ions (HCI). In order to reduce their construction, maintenance, and operation costs we have developed a novel, compact, room-temperature design, the Heidel
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2011.01363
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hollain, D.
During the course of this thesis a control system based on EPICS was developed for the Heidelberg electron beam ion trap. This system was employed to inves- tigate recombination and excitation processes in highly charged iridium (atomic number = 77)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1874::e46ad34418a71ae933049237131883d0
https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0023-E094-E11858/00-001M-0000-0024-162E-7
https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0023-E094-E11858/00-001M-0000-0024-162E-7
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.