Zobrazeno 1 - 10
of 127
pro vyhledávání: '"Holesinger, Terry G"'
Autor:
Derby, Benjamin K., Holesinger, Terry G., Valdez, James A., Uberuaga, Blas P., Kreller, Cortney R.
Publikováno v:
In Materials & Design 1 February 2021 199
Autor:
Janish, Matthew T., Schneider, Matthew M., Valdez, James A., McClellan, Kenneth J., Byler, Darrin D., Wang, Yongqiang, Chen, Di, Holesinger, Terry G., Uberuaga, Blas P.
Publikováno v:
In Acta Materialia 1 August 2020 194:403-411
Autor:
Lin, Shi-Zeng, Ayala-Valenzuela, Oscar, McDonald, Ross D., Bulaevskii, Lev N., Holesinger, Terry G., Ronning, Filip, Weisse-Bernstein, Nina R., Williamson, Todd L., Mueller, Alexander H., Hoffbauer, Mark A., Rabin, Michael W., Graf, Matthias J.
Publikováno v:
Phys. Rev. B 87, 184507 (2013) [9 pages]
The fabrication of high-quality thin superconducting films is essential for single-photon detectors. Their device performance is crucially affected by their material parameters, thus requiring reliable and nondestructive characterization methods afte
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1212.2258
Autor:
Holesinger, Terry G., Valdez, James A., Janish, Matthew T., Wang, Yongqiang, Uberuaga, Blas P.
Publikováno v:
In Acta Materialia 1 February 2019 164:250-260
Autor:
Beaux, Miles F., II, Vodnik, Douglas R., Peterson, Reuben J., Bennett, Bryan L., Salazar, Jesse J., Holesinger, Terry G., King, Graham, Maloy, Stuart A., Devlin, David J., Usov, Igor O.
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 15 March 2018 337:510-515
Autor:
Kreller, Cortney R., Valdez, James A., Holesinger, Terry G., Mukundan, Rangachary, Brosha, Eric L., Williamson, Todd, Wang, Yong Q., Uberuaga, Blas P.
Publikováno v:
In Solid State Ionics January 2018 314:36-40
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering A 2009 523(1):60-64
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Janish, Matthew T, Schneider, Matthew M, Ophus, Colin, Ciston, Jim, Valdez, James A, McClellan, Kenneth J, Byler, Darrin D, Chen, Di, Wang, Yongqiang, Holesinger, Terry G, Uberuaga, Blas P
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis, vol 25, iss S2
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______325::354d06238b91b3716896577326e93979
https://escholarship.org/uc/item/3h20p75r
https://escholarship.org/uc/item/3h20p75r