Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Hohage, J."'
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2010 87(11):2119-2123
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2009 86(3):408-413
Autor:
Horstmann, M. *, Greenlaw, D., Feudel, Th., Wei, A., Frohberg, K., Burbach, G., Gerhardt, M., Lenski, M., Stephan, R., Wieczorek, K., Schaller, M., Hohage, J., Ruelke, H., Klais, J., Huebler, P., Luning, S., Bentum, R. van, Grasshoff, G., Schwan, C., Cheek, J., Buller, J., Krishnan, S., Raab, M., Kepler, N.
Publikováno v:
In Materials Science & Engineering B 2004 114:3-8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hohage, J. (AUTHOR), Urban, P. (AUTHOR), Ritzmann, S. (AUTHOR), Gödde, D. (AUTHOR), Von Rundstedt, F-C. (AUTHOR)
Publikováno v:
European Urology. Feb2023:Supplement 1, Vol. 83, pS1787-S1787. 1p.
Autor:
Gallardo Zamora, L. (AUTHOR), Hohage, J. (AUTHOR), Degener, S. (AUTHOR), Dotse, J. (AUTHOR), Gödde, D. (AUTHOR), Kvasnicka, H. (AUTHOR), Von Rundstedt, F-C. (AUTHOR)
Publikováno v:
European Urology. Feb2023:Supplement 1, Vol. 83, pS1526-S1526. 1p.
Autor:
Aubel, O., Hohage, J., Feustel, F., Hennesthal, C., Mayer, U., Preusse, A., Nopper, M., Lehr, M.U., Boemmels, J., Wehner, S.
Publikováno v:
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2009, p832-836, 5p
Autor:
Horstmann, M., Wei, A., Kammler, T., Hontschel, J., Bierstedt, H., Feudel, T., Frohberg, K., Gerhardt, M., Hellmich, A., Hempel, K., Hohage, J., Javorka, P., Klais, J., Koerner, G., Lenski, M., Neu, A., Otterbach, R., Press, P., Reichel, C., Trentsch, M.
Publikováno v:
IEEE International Electron Devices Meeting, 2005. IEDM Technical Digest; 2005, p233-236, 4p