Zobrazeno 1 - 5 of 5 pro vyhledávání: '"Hoener, Carolyn F."'
1
Akademický článek
Production and depletion of long-lived charged non-bond-alternating defects in polyacetylene with mid-band-gap photolysis.
Autor: Hoener, Carolyn F.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; 6/15/1990, Vol. 92 Issue 12, p7643, 10p
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Auger depth profiles of TiN/Ti films in submicron contact holes: A comparison of collimated and uncollimated deposition processes.
Autor: Hoener, Carolyn F., Pylant, Eddie, Boden, Edward G., Wang, Shi-Qing
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1994, Vol. 12 Issue 3, p1394-1401, 8p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Auger analysis of etch residues in submicrometer via holes using focused ion beam sample preparation.
Autor: Hoener, Carolyn F., Shaver, Brian, Nguyen, Thien T.
Publikováno v: Surface & Interface Analysis: SIA; 1995, Vol. 23 Issue 2, p83-88, 6p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
Characterization of thin Chemical/Native Oxides on Si (100) by Auger and Angle-Resolved XPS.
Autor: Pylant, Eddie D., Hoener, Carolyn F., Arendt, Mark F., Witowski, Bob
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 01/21/1993, Vol. 318, pN.PAG-1, 1p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje