Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Determination of the electrical properties of ultrathin silicon-based dielectric films: thermally grown SiNx

Autor: Pic, N., Glachant, A., Nitsche, S., Hoarau, J.Y., Goguenheim, D., Vuillaume, D., Sibai, A., Chaneliere, C.

Publikováno v: In Solid State Electronics August 2001 45(8):1265-1270

Y growth of ultrathin film aluminum oxide on Ag(111)

Autor: Vizzini, S., Oughaddou, H., Hoarau, J.Y., Biberian, J.P., Aufray, B.

Publikováno v: Applied Physics Letters
Applied Physics Letters, 2009, 95 (17), pp.173111
Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2009, 95 (17), pp.173111

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::36d269f26e86a78349b1aa633e87f17c
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00440717

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.