Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"Hirabayashi, Daiki"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chujo, Takeshi, Hirabayashi, Daiki, Arafune, Takuya, Shibuya, Shohei, Sasaki, Shu, Kobayashi, Haruo, Tsuji, Masanobu, Shiota, Ryoji, Watanabe, Masafumi, Dobashi, Noriaki, Umeda, Sadayoshi, Nakamura, Hideyuki, Sato, Koshi
Publikováno v:
2015 IEEE 20th International Mixed-Signals Testing Workshop (IMSTW); 2015, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Chujo, Takeshi, Hirabayashi, Daiki, Congbing Li, Kobayashi, Yutaro, Junshan Wang, Kobayashi, Haruo, Katoh, Kentaroh, Koshi, Sato
Publikováno v:
19th Annual International Mixed-Signals, Sensors & Systems Test Workshop Proceedings; 2014, p1-6, 6p
Autor:
Osawa, Yusuke, Hirabayashi, Daiki, Harigai, Naohiro, Kobayashi, Haruo, Niitsu, Kiichi, Kobayashi, Osamu
Publikováno v:
19th Annual International Mixed-Signals, Sensors & Systems Test Workshop Proceedings; 2014, p1-6, 6p
Autor:
Uemori, Satoshi, Ishii, Masamichi, Kobayashi, Haruo, Doi, Yuta, Kobayashi, Osamu, Matsuura, Tatsuji, Niitsu, Kiichi, Abe, Fumitaka, Hirabayashi, Daiki
Publikováno v:
2012 IEEE 18th International Mixed-Signal, Sensors & Systems Test Workshop; 1/ 1/2012, p67-72, 6p
Autor:
Uemori, Satoshi, Ishii, Masamichi, Kobayashi, Haruo, Doi, Yuta, Kobayashi, Osamu, Matsuura, Tatsuji, Niitsu, Kiichi, Arakawa, Yuta, Hirabayashi, Daiki, Yano, Yuji, Gake, Tatsuhiro, Takai, Nobukazu, Yamaguchi, Takahiro J.
Publikováno v:
2012 IEEE Asia Pacific Conference on Circuits & Systems; 1/ 1/2012, p671-674, 4p
Autor:
Sakurai, Masato, Niitsu, Kiichi, Harigai, Naohiro, Hirabayashi, Daiki, Oki, Daiki, Yamaguchi, Takahiro J., Kobayashi, Haruo
Publikováno v:
2011 International SoC Design Conference (ISOCC); 2011, p146-149, 4p
Autor:
Osawa, Yusuke, Hirabayashi, Daiki, Harigai, Naohiro, Kobayashi, Haruo, Kobayashi, Osamu, Tsuji, Masanobu, Umeda, Sadayoshi, Shiota, Ryoji, Dobashi, Noriaki, Watanabe, Masafumi, Matsuura, Tatsuji, Niitsu, Kiichi, Shimizu, Isao, Takai, Nobukazu, Yamaguchi, Takahiro J.
Publikováno v:
Key Engineering Materials; May 2015, Vol. 643 Issue: 1 p149-155, 7p
Design Methodology and Jitter Analysis of a Delay Line for High-Accuracy On-Chip Jitter Measurements
Autor:
Niitsu, Kiichi, Sakuma, Kazunori, Harigai, Naohiro, Hirabayashi, Daiki, Takai, Nobukazu, Yamaguchi, Takahiro J., Kobayashi, Haruo
Publikováno v:
Key Engineering Materials; December 2013, Vol. 596 Issue: 1 p176-180, 5p