Zobrazeno 1 - 10
of 479
pro vyhledávání: '"Hinz, Alexander"'
Autor:
Ghosh, Saptarsi, Frentrup, Martin, Hinz, Alexander M., Pomeroy, James W., Field, Daniel, Wallis, David J., Kuball, Martin, Oliver, Rachel A.
Thick metamorphic buffers are perceived to be indispensable for the heteroepitaxial integration of III-V semiconductors on silicon substrates with large thermal expansion and lattice mismatches. However, III-nitride buffers in conventional GaN-on-Si
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2407.09723
Autor:
Pingen, Katrin, Hinz, Alexander M., Sandström, Per, Wolff, Niklas, Kienle, Lorenz, Scipioni, Larry, Greer, James, von Hauff, Elizabeth, Hultman, Lars, Birch, Jens, Hsiao, Ching-Lien
Publikováno v:
In Vacuum February 2024 220
Autor:
Hinz, Alexander M., Ghosh, Saptarsi, Fairclough, Simon M., Griffiths, James T., Kappers, Menno J., Oliver, Rachel A., Wallis, David J.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 15 December 2023 624
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Neuhaus, Stefan, Bartzsch, Hagen, Cornelius, Steffen, Pingen, Katrin, Hinz, Alexander, Frach, Peter
Publikováno v:
In Surface & Coatings Technology 15 January 2022 429