Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Hink, Steffen"'
Autor:
Hink, Steffen, Elsøe, Katrine, Cleemann, Lars Nilausen, Henkensmeier, Dirk, Jang, Jong Hyun, Kim, Hyoung-Juhn, Han, Jonghee, Nam, Suk-Woo, Li, Qingfeng
Publikováno v:
In European Polymer Journal November 2015 72:102-113
Autor:
Hink, Steffen, Duong, Ngoc My Hanh, Henkensmeier, Dirk, Kim, Jin Young, Jang, Jong Hyun, Kim, Hyoung-Juhn, Han, Jonghee, Nam, Suk-Woo
Publikováno v:
In Solid State Ionics July 2015 275:80-85
Autor:
Hink, Steffen1 s.hink@ipc.uni-stuttgart.de, Wagner, Norbert2 norbert.wagner@dlr.de, Bessler, Wolfgang G.2 wolfgang.bessler@dlr.de, Roduner, Emil1 e.roduner@ipc.uni-stuttgart.de
Publikováno v:
Membranes. Jun2012, Vol. 2 Issue 2, p237-252. 16p.
Autor:
Hink, Steffen
In der vorliegenden Arbeit wird die Methode der EC-AFM erweitert, um aus zeit- und ortsaufgelösten Strom-Transienten tiefere Einblicke vor allem in die Dynamik des Systems im Nanometerbereich zu erhalten. Hierzu wird die AFM-Spitze am Ausgang eines
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b84ecf84955c475370739cbeff4ea470
Autor:
Hink, Steffen
In der vorliegenden Arbeit wird die Methode der EC-AFM erweitert, um aus zeit- und ortsaufgelösten Strom-Transienten tiefere Einblicke vor allem in die Dynamik des Systems im Nanometerbereich zu erhalten. Hierzu wird die AFM-Spitze am Ausgang eines
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______350::0813dea5d073beac98d8e11e94efb58a
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
ECS Transactions; October 2010, Vol. 33 Issue: 1 p57-70, 14p