Výsledky vyhledávání - "Hincapie Campos, W. S."

Akademický článek

X-Ray Photoelectron Spectroscopy of Ti x Al and Ti x Al/A-Si:H Interlayer with Different Thicknesses on Stainless Steel to Enhancing Adhesion of DLC Films.

Autor: Hincapie Campos, W. S., Gutiérrez Bernal, J. M., Capote, G., Trava-Airoldi, V. J.

Publikováno v: Coatings (2079-6412); Nov2024, Vol. 14 Issue 11, p1393, 21p

Zobrazit plný text záznamu