Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Hikone K"'
A practical approach to instruction-based test generation for functional modules of VLSI processors.
Publikováno v:
Proceedings 15th IEEE VLSI Test Symposium (Cat No97TB100125); 1997, p17-22, 6p
Publikováno v:
International Test Conference 1988 Proceeding@m_New Frontiers in Testing; 1988, p642-648, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings International Test Conference 1992; 1992, p41-41, 1p