Zobrazeno 1 - 10
of 43
pro vyhledávání: '"Hetherington, C. J. D."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Benedetti, A., Norris, D. J., Hetherington, C. J. D., Cullis, A. G., Robbins, D. J., Wallis, D. J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 4/1/2003, Vol. 93 Issue 7, p3893, 7p, 6 Graphs
Publikováno v:
Philosophical Magazine Letters. Jul2000, Vol. 80 Issue 7, p477-482. 6p. 1 Black and White Photograph, 3 Diagrams.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wang, L. C., Hatton, H. J., Cooke, M. D., Gibbs, M. R. J., Rainforth, W. M., Hetherington, C. J. D.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/1/2001, Vol. 89 Issue 11, p7511, 3p, 3 Black and White Photographs, 2 Graphs
Autor:
Hetherington, C. J. D., Dahmen, U.
Publikováno v:
Scanning Microscopy
High resolution electron microscopy is a means for imaging not only the local structure at a defect or interface but also the displacement field in the surrounding lattice. However, in general it is difficult or tedious to analyse this field which ca
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1459::1ffe0064e472db36d0989ea144f0aa99
https://digitalcommons.usu.edu/context/microscopy/article/1508/viewcontent/WDCcenterscan1992HetheringtonDahmen_OpticalMoireTechnique.pdf
https://digitalcommons.usu.edu/context/microscopy/article/1508/viewcontent/WDCcenterscan1992HetheringtonDahmen_OpticalMoireTechnique.pdf
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Cullis, A. G., Hutchison, J. L., Hetherington, C. J. D., Cockayne, D. J. H., Doole, R. C., Kirkland, A. I., Titchmarsh, J. M.
Publikováno v:
Microscopy of Semiconducting Materials; 2005, p177-182, 6p
Autor:
Hetherington, C. J. D.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 1999, Vol. 589 Issue 1, p1-6, 6p