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pro vyhledávání: '"Herrero AF"'
Autor:
Ciesielski R; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany., Lohr LM; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany., Herrero AF; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany., Fischer A; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany., Grothe A; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany., Mentzel H; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany., Scholze F; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany., Soltwisch V; Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Abbestraße 2-12, 10587 Berlin, Germany.
Publikováno v:
The Review of scientific instruments [Rev Sci Instrum] 2023 Jan 01; Vol. 94 (1), pp. 013904.
Publikováno v:
Optics express [Opt Express] 2021 Oct 25; Vol. 29 (22), pp. 35580-35591.
Autor:
Marlowe H, McEntaffer RL, Tutt JH, DeRoo CT, Miles DM, Goray LI, Soltwisch V, Scholze F, Herrero AF, Laubis C
Publikováno v:
Applied optics [Appl Opt] 2016 Jul 20; Vol. 55 (21), pp. 5548-53.