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pro vyhledávání: '"Hermann Gross"'
Das wirtschaftliche Basiswissen der Oberstufe mit den relevanten Theorien und Modellen kurz und prägnant erklärt. Mit vielen Tabellen und Schaubildern. Aufgebaut an den Akteuren des Wirtschaftskreislaufs und somit für alle Bundesländer geeignet.
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0abbadc9a175d9a4d5dc72c13441896c
https://doi.org/10.46499/9783734414138
https://doi.org/10.46499/9783734414138
Autor:
Bernhard Frevel, Hermann Groß
Publikováno v:
Grundrechte – Menschenrechte – Polizei ISBN: 9783658335601
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0a5d58ed400b425de98eca4c35d00ad9
https://doi.org/10.1007/978-3-658-33561-8_12
https://doi.org/10.1007/978-3-658-33561-8_12
Autor:
Bernhard Frevel, Hermann Groß
Publikováno v:
Gesundheit als gesamtgesellschaftliche Aufgabe ISBN: 9783658305031
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d22b2a25cf7831ebdeae7eee1e9a48f8
https://doi.org/10.1007/978-3-658-30504-8_19
https://doi.org/10.1007/978-3-658-30504-8_19
Publikováno v:
Metrologia. 55:S201-S211
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d615b5ce0653e13fb1b8613152f73197
https://doi.org/10.1088/1681-7575/aae41c
https://doi.org/10.1088/1681-7575/aae41c
Dieses Buch stellt prägnant das wirtschaftliche Basiswissen für die Oberstufe dar. Zahlreiche Abbildungen und Übersichten helfen beim Erschließen des Stoffs, ein umfangreiches Stichwortverzeichnis erleichtert die thematische Suche. Die operatoren
Publikováno v:
Measurement. 97:79-87
Partial differential equations with uncertain input parameters are used in many applications in metrology, physics and engineering. The effect of input uncertainties on the solutions can be determined by the law of propagation of uncertainties. Accor
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::83fd952f6d61b2c58d557048f3924086
https://doi.org/10.1016/j.measurement.2016.06.009
https://doi.org/10.1016/j.measurement.2016.06.009
Publikováno v:
Measurement. 98:339-346
The impact of line edge roughness (LER) on measured light diffraction pattern of photo masks is investigated. This is relevant for scatterometry as an accurate, indirect method in wafer metrology to determine geometry parameters of periodic surface s
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6e910606d9944f8881039584a49664a2
https://doi.org/10.1016/j.measurement.2016.08.027
https://doi.org/10.1016/j.measurement.2016.08.027
Autor:
Hartmut Seifert, Hermann Groß
Publikováno v:
WSI-Mitteilungen. 70:432-441
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b131b52dc2852a8c4ebfaead8e7910fa
https://doi.org/10.5771/0342-300x-2017-6-432
https://doi.org/10.5771/0342-300x-2017-6-432
Autor:
Paul Köchert, Christoph Weichert, Gaoliang Dai, Frank Scholze, Harald Bosse, Wolfgang Häßler-Grohne, Jens Flügge, Hermann Groß, Bernd Bodermann, Rainer Köning, C. G. Frase
Publikováno v:
tm - Technisches Messen. 82:346-358
Recent developments of the PTB in high precision position and size metrology as support for different nanotechnology applications are described. Measurement uncertainties of 1–2 nm for 1D-position of graduation lines on photomasks, or on line scale
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0e4fc981470e0100f1f89cc9d73c1605
https://doi.org/10.1515/teme-2015-0002
https://doi.org/10.1515/teme-2015-0002