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Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2024, Vol. 359 Issue: 1 p113-118, 6p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2024, Vol. 359 Issue: 1 p105-112, 8p
Publikováno v:
Diffusion and Defect Data Part B: Solid State Phenomena; August 2024, Vol. 359 Issue: 1 p79-84, 6p
Autor:
Hellinger, Carsten
Im Rahmen dieser Arbeit wurden nickelbasierte ohmsche Kontakte auf der Rückseite von n-dotierten 4H-SiC-Substraten unter Verwendung eines Kurzzeitpulslasers herge-stellt, elektrisch charakterisiert und analytisch untersucht, um die zugrundeliegenden
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2091::3ce02d2d46ba2fa9c210e3f73f378e82
https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/23454
https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/23454
Autor:
Guiot, Eric, Allibert, Frédéric, Leib, Jürgen, Becker, Tom, Schwarzenbach, Walter, Hellinger, Carsten, Erlbacher, Tobias, Rouchier, Séverin
Publikováno v:
Materials Science Forum; June 2023, Vol. 1092 Issue: 1 p201-207, 7p
Das vorliegende Arbeitspapier stellt eine Bestandsaufnahme zu einem Forschungsprojekt dar, das vom Institut für Genossenschaftswesen der Universität Münster gemeinsam mit dem Westfälischen Genossenschaftsverband e.V. (WGV), Münster, in diesem Ja
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______645::1ec746b6fc28ecc3d2df8def994b34b8
https://www.econstor.eu/bitstream/10419/55767/1/687592089.pdf
https://www.econstor.eu/bitstream/10419/55767/1/687592089.pdf