Zobrazeno 1 - 10
of 22
pro vyhledávání: '"Heiss, Dominik"'
Autor:
Gonzalez-Zalba, M. Fernando, Saraiva, André, Heiss, Dominik, Calderón, Maria J., Koiller, Belita, Ferguson, Andrew J.
Publikováno v:
Nano Letters, 2014, 14, 5672
Donors in silicon, conceptually described as hydrogen atom analogues in a semiconductor environment, have become a key ingredient of many "More-than-Moore" proposals such as quantum information processing [1-5] and single-dopant electronics [6, 7]. T
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1312.4589
We report electrical measurements of a single arsenic dopant atom in the tunnel-barrier of a silicon SET. As well as performing electrical characterization of the individual dopant, we study series electrical transport through the dopant and SET. We
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1111.4406
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Heiss, Dominik, Higuera-Rodriguez, Aura, Dolores-Calzadilla, Victor, Fiore, Andrea, Smit, Meint
Publikováno v:
2014 16th International Conference on Transparent Optical Networks (ICTON); 2014, p1-4, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kroutvar, Miro, Ducommun, Yann, Heiss, Dominik, Bichler, Max, Schuh, Dieter, Abstreiter, Gerhard, Finley, Jonathan J.
Publikováno v:
Nature; 11/4/2004, Vol. 432 Issue 7013, p81-84, 4p, 1 Diagram, 4 Graphs
Autor:
Broquin, Jean Emmanuel, Nunzi Conti, Gualtiero, van der Tol, Jos, Pello, Josselin, Bhat, Shrivatsa, Jiao, Yuqing, Heiss, Dominik, Roelkens, Gunther, Ambrosius, Huub, Smit, Meint
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2014, Vol. 8988 Issue: 1 p89880M-89880M-17, 8898138p
Publikováno v:
2014 International Semiconductor Laser Conference; 2014, p27-28, 2p