Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"Heinz, Frederik"'
Autor:
Heinz, Frederik Ole.
Diss. no. 15435 techn. sc. SFIT Zurich.
Literaturverz.
Literaturverz.
Externí odkaz:
http://e-collection.ethbib.ethz.ch/show?type=diss&nr=15435
Autor:
Heinz, Frederik Ole.
Eidgenössische Techn. Hochsch., Diss.--Zürich, 2004. Reprint of Diss.. ETH No. 15435.
Externí odkaz:
http://www.loc.gov/catdir/toc/fy0612/2004441081.html
Autor:
Heinz, Frederik R.
Einst bestaunt, heute verpönt, überdauern die Grindelhochhäuser in Hamburg-Eimsbüttel die Zeit. Der Gebäudekomplex zeugt von einer bewegten Geschichte der deutschen Nachkriegszeit – einer Geschichte von Zerstörung und Neuanfang, Avantgarde un
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______603::ff58b992df7c30160632a55e1ea6c0fb
http://publikationen.ub.uni-frankfurt.de/frontdoor/index/index/docId/67905
http://publikationen.ub.uni-frankfurt.de/frontdoor/index/index/docId/67905
Autor:
Heinz, Frederik O., Schenk, Andreas
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/15/2006, Vol. 100 Issue 8, p084314, 8p, 2 Diagrams, 5 Graphs
Autor:
Heinz, Frederik
Am Freitag, den 13. (!) September, wird das Landesverfassungsgericht Schleswig-Holstein über mehrere Wahlprüfungsbeschwerden urteilen – darunter eine Gruppe von Beschwerdeführern, der ich angehöre –, die sich gegen die Gültigkeit der Landtag
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4ed176d009dfcb1fdf744b9e45b3a7e8
https://intr2dok.vifa-recht.de/receive/mir_mods_00003528
https://intr2dok.vifa-recht.de/receive/mir_mods_00003528
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Heinz, Frederik Ole, Smith, Lee
Publikováno v:
2013 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices (SISPAD); 2013, p127-130, 4p
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; Jun2011, Vol. 58 Issue 6, p1614-1619, 6p