Zobrazeno 1 - 10
of 68
pro vyhledávání: '"Heinz, F.D."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Energy Procedia 2012 27:208-213
In order to push silicon solar cell efficiencies further towards their limit, as well as to ensure accuracy of luminescence based characterization techniques, an accurate modeling of radiative recombination is important. It is well-known that the rad
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::8710994995932ecb37aea0824380b725
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/268199
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/268199
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Schubert, M.C., Schindler, F., Schön, J., Kwapil, W., Benick, J., Müller, R., Heinz, F.D., Fell, A., Riepe, S., Morishige, A.
Multicrystalline (mc) solar cells made from n‐type silicon feedstock have shown record efficiencies of 22.3% in a tunnel‐oxide passivating contact (TOPCon) cell structure. Still, material‐related carrier recombination limits the attainable effi
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::95a457b8e7ea62f782814dfcea00eb7e
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/258947
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/258947
Autor:
Juhl, M.K., Heinz, F.D., Coletti, G., Rougieux, F.E., Sun, C., Niewelt, T., Krich, J.J., MacDonald, D., Schubert, M.C.
Publikováno v:
36th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, Marseille, France, 1-4
36th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition; 103-106
Defects in semiconductors have been studied for over 60 years. In this time there has been significant progress in measuring and understanding of these defects. This deve
Defects in semiconductors have been studied for over 60 years. In this time there has been significant progress in measuring and understanding of these defects. This deve
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::75873da43cab0844554c9dc9c55b8508
http://resolver.tudelft.nl/uuid:4a127763-bdd0-4ac2-9e2f-f31a1ea1119c
http://resolver.tudelft.nl/uuid:4a127763-bdd0-4ac2-9e2f-f31a1ea1119c
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.