Výsledky vyhledávání - "Heck, John M."

Akademický článek

Fit of the potential energy surface for the reaction Ne+H2+→NeH++H using three different functional forms.

Autor: Pendergast, Phil, Heck, John M., Hayes, Edward F., Jaquet, Ralph

Publikováno v: Journal of Chemical Physics; 3/15/1993, Vol. 98 Issue 6, p4543, 5p

Akademický článek

Resolution determination in X-ray microscopy: an analysis of the effects of partial coherence and illumination spectrum.

Autor: Heck, John M., Attwood, David T., Meyer-Ilse, Werner, Anderson, Erik H.

Publikováno v: Journal of X-Ray Science & Technology. 1998, Vol. 8 Issue 2, p95. 10p.

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Polycrystalline Silicon—Germanium Films for Integrated Microsystems.

Autor: Franke, Andrea E., Heck, John M., King, Tsu-Jae, Howe, Roger T.

Publikováno v: Journal of Microelectromechanical Systems; Apr2003, Vol. 12 Issue 2, p160, 10p, 6 Black and White Photographs, 5 Diagrams, 1 Chart, 14 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

A comparative basis-set study of NeH⁺ using coupled-cluster techniques.

Autor: Pendergast, Phil, Heck, John M., Hayes, Edward F.

Publikováno v: International Journal of Quantum Chemistry; Feb1994, Vol. 49 Issue 4, p495-509, 15p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání