Zobrazeno 1 - 10
of 1 853
pro vyhledávání: '"He X-Y"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Liu, X. H.1 liu_xuhui79@163.com, He, X. Y.1, Wang, W. L.1, Wu, Y.1, Han, X. B.1, Qi, J.1, Xu, B.1
Publikováno v:
Magnetohydrodynamics (0024-998X). Jan-Jun2024, Vol. 60 Issue 1, p87-99. 13p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lin, C. J., He, X. Y., Liao, J., Wang, X. X., Sacksteder IV, V., Yang, W. M., Guan, T., Zhang, Q. M., Gu, L., Zhang, G. Y., Zeng, C. G., Dai, X., Wu, K. H., Li, Y. Q.
Publikováno v:
Phys. Rev. B 88, 041307(R) (2013)
We report that the finite thickness of three-dimensional topological insulator (TI) thin films produces an observable magnetoresistance (MR) in phase coherent transport in parallel magnetic fields. The MR data of Bi2Se3 and (Bi,Sb)2Te3 thin films are
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1307.7228
Publikováno v:
Appl. Phys. Lett. 101, 251110 (2012)
We report on the optoelectronic properties of thin films of Bi2Se3 grown by molecular beam epitaxy. The films are patterned into circuits with typical extensions of tens of microns. In spatially resolved experiments, we observe submicron photocurrent
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1210.4743
Publikováno v:
Phys. Rev. B 83, 241304(R) (2011)
We demonstrate that the weak antilocalization effect can serve as a convenient method for detecting decoupled surface transport in topological insulator thin films. In the regime where a bulk Fermi surface coexists with the surface states, the low fi
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1104.0986
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
He, X. Y.1 (AUTHOR), Wang, H.1 (AUTHOR) hao.wang1@sydney.edu.au, Zhu, Z. G.2 (AUTHOR), Wang, L. Z.3 (AUTHOR), Liu, J. Q.1 (AUTHOR), Haghdadi, N.4 (AUTHOR), Nai, S. M. L.2 (AUTHOR), Huang, J.3 (AUTHOR), Primig, S.4 (AUTHOR), Ringer, S. P.1 (AUTHOR), Liao, X. Z.1 (AUTHOR) xiaozhou.liao@sydney.edu.au
Publikováno v:
Journal of Materials Science. Jun2022, Vol. 57 Issue 21, p9714-9725. 12p. 7 Color Photographs, 1 Black and White Photograph.