Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Hazeghi, Arash"'
Autor:
Sulpizio, Joseph A., Hazeghi, Arash, Diankov, Georgi, Goldhaber-Gordon, David, Wong, H. -S. Philip
We have developed a highly-sensitive integrated capacitance bridge for quantum capacitance measurements. Our bridge, based on a GaAs HEMT amplifier, delivers attofarad (aF) resolution using a small AC excitation at or below kT over a broad temperatur
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1009.5407
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hazeghi, Arash1 ahazeghi@stanford.edu, Krishnamohan, Tejas1,2, Wong, H.-S. Philip1 hspwong@stanford.edu
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. Mar2007, Vol. 54 Issue 3, p439-445. 7p. 3 Black and White Photographs, 3 Diagrams, 7 Graphs.
Publikováno v:
2009 46th ACM/IEEE Design Automation Conference; Jul2009, p71-76, 6p
Publikováno v:
DAC: Annual ACM/IEEE Design Automation Conference; Jul2009, p71-76, 6p, 1 Color Photograph, 2 Diagrams, 2 Charts, 6 Graphs
Publikováno v:
2006 IEEE/ACM International Conference on Computer Aided Design; Nov2006, p651-654, 4p
Autor:
Wong, H.-S. Philip, Mitra, Subhasish, Akinwande, Deji, Beasley, Cara, Chai, Yang, Chen, Hong-Yu, Chen, Xiangyu, Close, Gael, Deng, Jie, Hazeghi, Arash, Liang, Jiale, Lin, Albert, Liyanage, Luckshitha S., Luo, Jieying, Parker, Jason, Patil, Nishant, Shulaker, Max, Wei, Hai, Wei, Lan, Zhang, Jie
Publikováno v:
2011 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 2011, p1.4-14, 0p
Autor:
Hazeghi, Arash, Sulpizio, Joseph A., Diankov, Georgi, Goldhaber-Gordon, David, Philip Wong, H. S.
Publikováno v:
Review of Scientific Instruments; Dec2011, Vol. 82 Issue 12, p129901, 1p