Zobrazeno 1 - 10
of 114
pro vyhledávání: '"Hauffe, W"'
Publikováno v:
Microelectronics International: An International Journal, 2004, Vol. 21, Issue 1, pp. 31-34.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/13565360410517102
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2005 252(1):240-244
Autor:
Zier, M., Hauffe, W.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2003 202:182-187
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2001 179(1):45-48
Kossel and pseudo Kossel CCD pattern in comparison with electron backscattering diffraction diagrams
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2001 179(1):38-44
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2000 165(4):279-287
Autor:
Helbig, E. B., Hauffe, W., Edelmann, J. K. A. F., Klimm, H. W., Richter, W. M., Reich, E., Reitemeier, B. K., Müller, G.
Publikováno v:
Quintessence International; Jul1997, Vol. 28 Issue 7, p479-491, 13p
Kompositkeramiken, deren Bestandteile extrem unterschiedliche Härten aufweisen, bereiten bei der keramografischen Präparation Probleme. Die mechanische Schliffpräparation ist nicht anwendbar, und auch die Untersuchung von Bruchflächen liefert nur
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::b5301adc75c93b3a8f939015ffe9005e
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/206734
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/206734
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings; 2001, Vol. 550 Issue 1, p692, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.