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Publikováno v:
Microelectronics International: An International Journal, 2004, Vol. 21, Issue 1, pp. 31-34.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/13565360410517102
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2005 252(1):240-244
Autor:
Zier, M., Hauffe, W.
Publikováno v:
In Nuclear Inst. and Methods in Physics Research, B 2003 202:182-187
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2001 179(1):45-48
Kossel and pseudo Kossel CCD pattern in comparison with electron backscattering diffraction diagrams
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2001 179(1):38-44
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2000 165(4):279-287
Autor:
Grigoriev, Sergey N.1 (AUTHOR) s.grigoriev@stankin.ru, Metel, Alexander S.1 (AUTHOR) a.metel@stankin.ru, Volosova, Marina A.1 (AUTHOR), Mustafaev, Enver S.1 (AUTHOR), Melnik, Yury A.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Surfaces (2571-9637). Sep2024, Vol. 7 Issue 3, p714-724. 11p.
Autor:
Helbig, E. B., Hauffe, W., Edelmann, J. K. A. F., Klimm, H. W., Richter, W. M., Reich, E., Reitemeier, B. K., Müller, G.
Publikováno v:
Quintessence International; Jul1997, Vol. 28 Issue 7, p479-491, 13p
Publikováno v:
Surface & Interface Analysis: SIA; 2002, Vol. 34 Issue 1, p786-789, 4p
Kompositkeramiken, deren Bestandteile extrem unterschiedliche Härten aufweisen, bereiten bei der keramografischen Präparation Probleme. Die mechanische Schliffpräparation ist nicht anwendbar, und auch die Untersuchung von Bruchflächen liefert nur
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______610::b5301adc75c93b3a8f939015ffe9005e
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/206734
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/206734
