Zobrazeno 1 - 10
of 130
pro vyhledávání: '"Hattori, Ken"'
Publikováno v:
In Surface Science February 2016 644:86-90
Autor:
Hattori, Azusa N., Hattori, Ken, Kataoka, Keita, Takematsu, Emi, Ishii, Akira, Komori, Fumio, Daimon, Hiroshi
Publikováno v:
In Journal of Magnetism and Magnetic Materials August 2014 363:158-165
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
In‐plane eddy current analysis for end and interior stator core packets of turbine generators
Autor:
Yamazaki, Katsumi, Yamato, Yuki, Mogi, Hisashi, Kaido, Chikara, Nakahara, Akihito, Takahashi, Kazuhiko, Ide, Kazumasa, Hattori, Ken'ichi
Publikováno v:
COMPEL -The international journal for computation and mathematics in electrical and electronic engineering, 2010, Vol. 29, Issue 5, pp. 1218-1231.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/03321641011061434
Autor:
Hattori, Azusa N., Okamoto, Takeshi, Sadakuni, Shun, Murata, Junji, Arima, Kenta, Sano, Yasuhisa, Hattori, Ken, Daimon, Hiroshi, Endo, Katsuyoshi, Yamauchi, Kazuto
Publikováno v:
In Surface Science 2011 605(5):597-605
Publikováno v:
In Applied Surface Science 2010 256(14):4745-4756
Autor:
Hattori, Azusa N., Kawamura, Fumio, Yoshimura, Masashi, Kitaoka, Yasuo, Mori, Yusuke, Hattori, Ken, Daimon, Hiroshi, Endo, Katsuyoshi
Publikováno v:
In Surface Science 2010 604(15):1247-1253
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hattori, Ken
Publikováno v:
表面と真空. 62(7):427-432
We have established the original methodology that enable to observe atomic orderings and arrangements of “surfaces with arbitrary directions” on 3D figured structures, by developing diffraction and microscopy techniques. An original technique, na
Autor:
Sidik, Umar, Hattori, Azusa N., Hattori, Ken, Alaydrus, Musa, Hamada, Ikutaro, Pamasi, Liliany N., Tanaka, Hidekazu
Publikováno v:
ACS Applied Electronic Materials; 10/25/2022, Vol. 4 Issue 10, p4849-4856, 8p