Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Harri Joki"'
Publikováno v:
Polymer Degradation and Stability
Polymer Degradation and Stability, Elsevier, 2021, 185, pp.109492. ⟨10.1016/j.polymdegradstab.2021.109492⟩
Hettal, S, Roland, S, Sipilä, K, Joki, H & Colin, X 2021, ' A new analytical model for predicting the radio-thermal oxidation kinetics and the lifetime of electric cable insulation in nuclear power plants : Application to silane cross-linked polyethylene ', Polymer Degradation and Stability, vol. 185, 109492 . https://doi.org/10.1016/j.polymdegradstab.2021.109492
Polymer Degradation and Stability, Elsevier, 2021, 185, pp.109492. ⟨10.1016/j.polymdegradstab.2021.109492⟩
Hettal, S, Roland, S, Sipilä, K, Joki, H & Colin, X 2021, ' A new analytical model for predicting the radio-thermal oxidation kinetics and the lifetime of electric cable insulation in nuclear power plants : Application to silane cross-linked polyethylene ', Polymer Degradation and Stability, vol. 185, 109492 . https://doi.org/10.1016/j.polymdegradstab.2021.109492
The radio-thermal oxidation of silane cross-linked polyethylene (Si-XLPE) was studied in air under different γ dose rates (6.0, 8.5, 77.8, and 400 Gy.h−1) at different temperatures (21, 47, and 86°C). The changes in the physico-chemical and mecha
Publikováno v:
2019 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP)
Suraci, S, Fabiani, D, Joki, H & Sipilä, K 2019, Filler impact analysis on aging of crosslinked polyethylene for nuclear applications through dielectric spectroscopy . in 2019 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) . IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers, pp. 166-169, Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, CEIPD 2019, Richland, Washington, United States, 20/10/19 . https://doi.org/10.1109/CEIDP47102.2019.9009787
Suraci, S, Fabiani, D, Joki, H & Sipilä, K 2019, Filler impact analysis on aging of crosslinked polyethylene for nuclear applications through dielectric spectroscopy . in 2019 IEEE Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena (CEIDP) . IEEE Institute of Electrical and Electronic Engineers, pp. 166-169, Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, CEIPD 2019, Richland, Washington, United States, 20/10/19 . https://doi.org/10.1109/CEIDP47102.2019.9009787
This paper investigates the evolution of electrical properties with aging for two XLPE based materials having different chemical compositions. It is shown that aging and material composition can significantly affect the electrical response, suggestin
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::45b2bff6e935679971f11c9b278836c8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.