Zobrazeno 1 - 10
of 240
pro vyhledávání: '"Haque, Aman"'
Autor:
Pagan, Darren C., Rasel, Md Abu Jafar, Lim, Rachel E., Sheyfer, Dina, Liu, Wenjun, Haque, Aman
Localized residual stress and elastic strain concentrations in microelectronic devices often affect the electronic performance, resistance to thermomechanical damage, and, likely, radiation tolerance. A primary challenge for characterization of these
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2207.05789
Autor:
Al-Mamun, Nahid Sultan, Islam, Ahmad, Glavin, Nicholas, Haque, Aman, Wolfe, Douglas E., Ren, Fan, Pearton, Stephen
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2024 160
Publikováno v:
In Materials Characterization September 2024 215
Autor:
Wan, Hsiao-Hsuan, Li, Jian-Sian, Chiang, Chiao-Ching, Xia, Xinyi, Hays, David C., Al-Mamun, Nahid Sultan, Haque, Aman, Ren, Fan, Pearton, Stephen J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 6/21/2024, Vol. 135 Issue 23, p1-7, 7p
Publikováno v:
In Journal of Nuclear Materials July 2024 595
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Xia, Xinyi, Stepanoff, Sergei, Haque, Aman, Wolfe, Douglas E., Barke, Simon, Wass, Peter J., Ren, Fan, Conklin, John W., Pearton, S.J.
Publikováno v:
In Optical Materials August 2023 142