Zobrazeno 1 - 10
of 33
pro vyhledávání: '"Hapke, Friedrich"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Acero, Cesar, Feltham, Derek, Hapke, Friedrich, Moghaddam, Elham, Mukherjee, Nilanjan, Neerkundar, Vidya, Patyra, Marek, Rajski, Janusz, Tyszer, Jerzy, Zawada, Justyna
Publikováno v:
2015 IEEE International Test Conference (ITC); 2015, p1-8, 8p
Publikováno v:
VLSI Design, Automation & Test(VLSI-DAT); 2015, p1-4, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Tang, Huaxing, Benware, Brady, Reese, Michael, Caroselli, Joseph, Herrmann, Thomas, Hapke, Friedrich, Tao, Robert, Cheng, Wu-Tung, Sharma, Manish
Publikováno v:
2014 IEEE 23rd Asian Test Symposium; 2014, p318-323, 6p
Publikováno v:
2013 IEEE 16th International Symposium on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS); 2013, p42-47, 6p
Publikováno v:
2013 Euromicro Conference on Digital System Design; 2013, p453-461, 9p
Autor:
Marinissen, Erik Jan, Vandling, Gilbert, Goel, Sandeep Kumar, Hapke, Friedrich, Rivers, Jason, Mittermaier, Nikolaus, Bahl, Swapnil
Publikováno v:
Proceedings of the Conference: Design, Automation & Test in Europe; 3/12/2012, p123-128, 6p
Publikováno v:
2012 IEEE 15th International Symposium on Design & Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS); 1/ 1/2012, p230-235, 6p