Zobrazeno 1 - 10
of 69
pro vyhledávání: '"Hapke, F."'
Autor:
Marinissen, E. J., Vandling, G., Goel, S. K., Hapke, F., Rivers, J., Mittermaier, N., Bahl, S.
Publikováno v:
ResearcherID
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::64d575725187ff17f618ad2928d0e4dc
https://doi.org/10.1109/date.2012.6176444
https://doi.org/10.1109/date.2012.6176444
Autor:
Hapke, F., Arnold, R., Beck, M., Baby, M., Straehle, S., Goncalves, J. F., Panait, A., Behr, R., Maugard, G., Prashanthi, A., Schloeffel, J., Redemund, W., Glowatz, A., Fast, A., Rajski, J.
Publikováno v:
2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS); 2014, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hapke, F., Schloeffel, J.
Publikováno v:
2012 17TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS); 1/ 1/2012, p1-6, 6p
Cell-aware analysis for small-delay effects and production test results from different fault models.
Autor:
Hapke, F., Schloeffel, J., Redemund, W., Glowatz, A., Rajski, J., Reese, M., Rearick, J., Rivers, J.
Publikováno v:
2011 IEEE International Test Conference (ITC); 2011, p1-8, 8p
Publikováno v:
2011 International Symposium on VLSI Design, Automation & Test (VLSI-DAT); 2011, p1-4, 4p
Autor:
Hapke, F., Redemund, W., Schloeffel, J., Krenz-Baath, R., Glowatz, A., Wittke, M., Hashempour, H., Eichenberger, S.
Publikováno v:
2010 IEEE International Test Conference (ITC); 2010, p1-10, 10p
Publikováno v:
2009 27th IEEE VLSI Test Symposium; 2009, p179-184, 6p
Publikováno v:
2009 10th Latin American Test Workshop; 2009, p1-6, 6p
Autor:
Hapke, F., Krenz-Baath, R., Glowatz, A., Schloeffel, J., Hashempour, H., Eichenberger, S., Hora, C., Adolfsson, D.
Publikováno v:
2009 International Test Conference; 2009, p1-10, 10p